| 品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,生物產業,制藥/生物制藥,綜合 |
Fischer代理鍍層測厚儀
菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY主要特點：
X射線熒光鍍層測厚儀Z多可同時測定從鋁( 13 )到鈾(92 )中的24種元素
測量門向上開啟的臺式儀器,側面開槽設計。
馬達驅動、可編程運行的X/Y軸工作和Z軸升降臺
馬達驅動、可切換的準直器和基本濾片。
配備三擋高壓和4個可切換的基本濾片。
可按要求,提供額外的XDV型產品更改和XDV儀器技術咨詢。
菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY鍍層厚度測量
■測量未布元器件和已布元器件的印制線路板
■在納米范圍內測量復雜鍍層系統,如引線框架上Au/Pd/Ni/CuFe的鍍層厚度
■對 12英寸直徑的晶圓進行全自動的質量監控
■在納米范圍內測星金屬化層 (凸塊下金屬化層，UBM ):遵循標準 DIN EN ISO 3497 和ASTM B568
菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY材料分析
■分析諸如Na等極輕元素
■分析銅柱 上的無鉛化焊帽
■ 分析半導體行業中C4或更小的焊料凸塊以及微小的接觸面
菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY典型應用領域
■測量PCB、 引線框架和晶片上的鍍層系統
■測 星微小工件和線材上的鍍層系統
I分析微小工件的材料成分
Fischer代理鍍層測厚儀
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蘇公網安備32021402002647
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