Fischer X射線測厚儀XDAL237

Fischer X射線測厚儀XDAL237

fischer XDAL237儀器可以用來測量SnPb焊層中的鉛含量。在這一- 應(yīng)用中，首先要準(zhǔn)確測量SnPb的厚度以便分析Pb的含量。按照航空航天工業(yè)中高可靠性的要求，為避免裂紋的出現(xiàn)，合金中Pb的含量至少必須在3%以上。fischer XDAL237對于日常使用的電子產(chǎn)品，根據(jù)RoHS指令要求，Pb在焊料中的含量多不能超過1000ppm.盡管XDAL測量Pb含量的測量下限取決于SnPb鍍層的厚度，但是通常情況下XDAL的測量下限足夠低，可以很輕易達(dá)到以上的測量需求。

fischer測厚儀憑借電機(jī)驅(qū)動（可選）與自上而下的測量方向，fischer測厚儀XDL系列測量儀器能夠進(jìn)行自動化的批量測試。菲希爾x射線測厚儀提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設(shè)計(jì)上，F(xiàn)ISCHERSCOPE XRAY XDAL型儀器和XDLM菲希爾x射線測厚儀相對應(yīng)。區(qū)別在于使用的探測器類型不同。在XDAL上，使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測器，從而有了遠(yuǎn)好于XDLM使用的比例計(jì)數(shù)器的能量分辨率。因而，這臺儀器適合于一般材料分析，痕量元素分析及測量薄鍍層厚度。

菲希爾xdal237X射線源是一個能產(chǎn)生很小光斑面積的微聚焦X射線管。菲希爾xdal237然而，由于相對較小的探測器有效接收面積(相比較比例計(jì)數(shù)器探測器來說)，信號強(qiáng)度低，故XDAL有限適用于極微小結(jié)構(gòu)和測量點(diǎn)的測量。菲希爾xdal237和XDLM類似，準(zhǔn)直器和基本濾片是可自動切換，以便為不同測量程式創(chuàng)造良好的激勵條件。FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器的測量空間寬大，可以用于測量復(fù)雜幾何形狀的各種樣品。馬達(dá)驅(qū)動可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置z高可達(dá)140mm高度的樣品。C型槽設(shè)計(jì)可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品。

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