X-RAY XAN 250菲希爾測厚儀fischer

X-RAY XAN 250菲希爾測厚儀fischer

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250/252高性能X射線熒光測量儀，配有**的硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。 FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250/252高性能X射線熒光測量儀特點 高性能機型，具有強大的綜合測量能力 配有4 個電動調節(jié)的準直器和6個電動調節(jié)的基本慮片 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)

X-RAY XAN 250

費希爾代理

菲希爾代理

FISCHERSCOPE X-RAY XAN250

FISCHERSCOPE X-RAY XAN250
通用高性能X射線熒光測量儀的快速和非破壞性的材料分析和鍍層厚度測量
特點
通用的溢價儀器與全面的測量能力
光圈（準直）4個電多變，主過濾器的6倍電多變
隨著高解析度：硅driftdetector（SDD）也適用于更復雜的分析與許多元素
測量方向從底部到頂部，這允許快速和簡單的樣品定位
典型的應用領域
測量從幾納米，功能性涂料，電子和半導體行業(yè)
跟蹤分析，為保護消費者權益，例如在玩具的鉛含量
分析與精度要求最高的珠寶和鐘表工業(yè)的合金和金屬精煉廠
大學和行業(yè)研究